超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪
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产品名称: 超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪
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简单介绍
超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪基于光谱反射原理， 即在一定的波长光波下，通过追踪被带有层状结构的基片反射和/或投射的光束来实现测量膜层厚度。测量薄膜厚度范围可达1nm -1000 um。一般20ms可以得到测量结果。而且超高精度MProbe薄膜测厚仪尺寸非常小巧，8″x 4″x10″。超高精度 超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪非常适合实验室，产品质量检测，研发使用。
超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪
的详细介绍
超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪特点：
l 超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪应用广泛：(a) 太阳能光伏薄膜领域-aSi, TCO, CIGS, CdS, CdTe；(b) LCD, FPD领域-ITO, Cell Gaps, Polyamides；(c) 光学薄膜领域-介质滤波器，加硬膜，减反射膜；(d) 半导体和电解质领域-Oxides, Nitrides, OLED stack
l 超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪即时测量和数据分析
l 超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪强大的数据库：已经有了500多种常用的材料参数，新的材料也容易添加，并能根据需要添加相应的材料特性参数-Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
l 超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪连接方便，使用自如：不管实在实验室独立使用，还是在研发或者是工厂连续生产中不间断在线持续监测膜层厚度，都能在10分钟内完成安装，与电脑或是网络的连接十分方便
l 超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪测量数据完整：除了膜层的厚度，还能测量光学参数和表面平整度
l 超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪使用人性化，功能强大：一键式操作即可完成膜层厚度测量和分析；强大的工具-仿真功能，内部自我纠正，多样品测量，动态监测和产品批量监测.
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产品尺寸
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8″x 4″x10″
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测量精度
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<0.01nm or 0.01%
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稳定性
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<0.02nm or 0.03%
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光斑尺寸
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2mm to 3um
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样品大小
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可以小至1 mm
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测量范围
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1 nm - 1000 um
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波长范围
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200nm -8000nm
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